-
1 secondary ion mass spectrometer
масс-спектрометр на вторичных ионах
(для исследования поверхностей материалов)
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]Тематики
EN
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > secondary ion mass spectrometer
-
2 SIMS
- Система сбора, хранения и представления данных о поверхностном радиоактивном загрязнении (США)
- система административного управления вопросами безопасности
- масс-спектрометрия на вторичных ионах
- масс-спектрометр на вторичных ионах
масс-спектрометр на вторичных ионах
(для исследования поверхностей материалов)
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]Тематики
EN
масс-спектрометрия на вторичных ионах
—
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]Тематики
EN
Система сбора, хранения и представления данных о поверхностном радиоактивном загрязнении (США)
—
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]Тематики
EN
система административного управления вопросами безопасности
—
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]Тематики
EN
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > SIMS
См. также в других словарях:
масс-спектрометр на вторичных ионах — (для исследования поверхностей материалов) [А.С.Гольдберг. Англо русский энергетический словарь. 2006 г.] Тематики энергетика в целом EN secondary ion mass spectrometerSIMS … Справочник технического переводчика